Новости« Назад
Cеминар 25.10.2011 г. «Аппаратные возможности контроля содержания взвешенных частиц». 08.09.2011 04:56
25 октября 2011 года в Москве в ЦВК «Экспоцентр» с 12.30 до 13.15 в рамках презентационного форума выставки «SIMEXPO - НАУЧНОЕ ПРИБОРОСТРОЕНИЕ - 2011» состоится семинар «Аппаратные возможности контроля содержания взвешенных частиц: наночастицы, воздух жилой зоны, воздух рабочей зоны, промышленные выбросы». По вопросу участия в семинаре просим обращаться по телефону (812) 3292688, либо по e-mail ecm-optec@peterlink.ru |
17.03.2013
Интернет-семинар «Применение технологии сканирующего спектрометра подвижности для контроля концентрации и размеров частиц» подробнее... 28.11.2012 Новости компании TSI подробнее... 08.11.2012 Состоялся семинар «Анализаторы пыли для контроля атмосферного воздуха и рабочей зоны» подробнее... 09.10.2012 Состоялся Интернет-семинар «Системы LDV/PDPA на базе твердотельного лазера» подробнее... 10.09.2012 Состоялся Интернет-семинар «Оборудование TSI для тестирования фильтров» подробнее... |