Новости

« Назад

Семинар 14.12.2011 г.  12.12.2011 11:19

14 декабря 2011 года состоится Интернет-семинар "Оборудование компании TSI для контроля нано- и микрочастиц".
В ходе семинара будет рассказано об оборудовании фирмы TSI (США, www.tsi.com) - производителе анализаторов для контроля концентрации и размеров нано- и микрочастиц.
Отдельное время будет посвящено ответам на вопросы пользователей продукции TSI, включая существующих и потенциальных заказчиков.
Семинар проходит при участии менеджера Европейского офиса компании TSI Люции Стефанковой.
Для участия в семинаре потребуется только выход в Интернет и наличие звуковых динамиков (наушников).
С целью подтверждения участия просим высылать заявки в срок до 14 декабря 2011 года, после чего Вам будет выслан код доступа и инструкция.
Заявки просим высылать по электронной почте ecm-optec@peterlink.ru с темой письма «Семинар «Оборудование для контроля нано- и микрочастиц» или по факсу (812) 3292688.
В заявке необходимо указать наименование организации, ФИО и контактные данные участника.
Участие - бесплатное.
17.03.2013

Интернет-семинар «Применение технологии сканирующего спектрометра подвижности для контроля концентрации и размеров частиц»

подробнее... 28.11.2012

Новости компании TSI

подробнее... 08.11.2012

Состоялся семинар «Анализаторы пыли для контроля атмосферного воздуха и рабочей зоны»

подробнее... 09.10.2012

Состоялся Интернет-семинар «Системы LDV/PDPA на базе твердотельного лазера»

подробнее... 10.09.2012

Состоялся Интернет-семинар «Оборудование TSI для тестирования фильтров»

подробнее...