Новости« Назад
Семинар 14.12.2011 г. 12.12.2011 11:19
14 декабря 2011 года состоится Интернет-семинар "Оборудование компании TSI для контроля нано- и микрочастиц". В ходе семинара будет рассказано об оборудовании фирмы TSI (США, www.tsi.com) - производителе анализаторов для контроля концентрации и размеров нано- и микрочастиц. Отдельное время будет посвящено ответам на вопросы пользователей продукции TSI, включая существующих и потенциальных заказчиков. Семинар проходит при участии менеджера Европейского офиса компании TSI Люции Стефанковой. Для участия в семинаре потребуется только выход в Интернет и наличие звуковых динамиков (наушников). С целью подтверждения участия просим высылать заявки в срок до 14 декабря 2011 года, после чего Вам будет выслан код доступа и инструкция. Заявки просим высылать по электронной почте ecm-optec@peterlink.ru с темой письма «Семинар «Оборудование для контроля нано- и микрочастиц» или по факсу (812) 3292688. В заявке необходимо указать наименование организации, ФИО и контактные данные участника. Участие - бесплатное. |
17.03.2013
Интернет-семинар «Применение технологии сканирующего спектрометра подвижности для контроля концентрации и размеров частиц» подробнее... 28.11.2012 Новости компании TSI подробнее... 08.11.2012 Состоялся семинар «Анализаторы пыли для контроля атмосферного воздуха и рабочей зоны» подробнее... 09.10.2012 Состоялся Интернет-семинар «Системы LDV/PDPA на базе твердотельного лазера» подробнее... 10.09.2012 Состоялся Интернет-семинар «Оборудование TSI для тестирования фильтров» подробнее... |