Новости« Назад
Семинар по спектрометрам наночастиц 08.02.2011 г. 08.02.2011 10:18
08 февраля 2011 года состоялся Интернет-семинар «Сканирующий классификатор подвижности частиц серии SMPS», посвященный техническим решениям компании TSI по способам контроля концентрации и размеров наночастиц. В ходе семинара была проведена презентация с демонстрацией слайдов, даны ответы на вопросы по комплектации, эксплуатации и применению спектрометров SMPS. Материалы семинара предоставляются по заявкам заинтересованных лиц. В заявке необходимо указать наименование организации, ФИО и контактные данные. |
17.03.2013
Интернет-семинар «Применение технологии сканирующего спектрометра подвижности для контроля концентрации и размеров частиц» подробнее... 28.11.2012 Новости компании TSI подробнее... 08.11.2012 Состоялся семинар «Анализаторы пыли для контроля атмосферного воздуха и рабочей зоны» подробнее... 09.10.2012 Состоялся Интернет-семинар «Системы LDV/PDPA на базе твердотельного лазера» подробнее... 10.09.2012 Состоялся Интернет-семинар «Оборудование TSI для тестирования фильтров» подробнее... |