Новости

« Назад

Семинар по спектрометрам наночастиц 08.02.2011 г.   08.02.2011 10:18

08 февраля 2011 года состоялся Интернет-семинар «Сканирующий классификатор подвижности частиц серии SMPS», посвященный техническим решениям компании TSI по способам контроля концентрации и размеров наночастиц.

В семинаре принял участие главный инженер по применению Европейского представительства компании TSI Dr. Axel Zerrath. 

В ходе семинара была проведена презентация с демонстрацией слайдов, даны ответы на вопросы по комплектации, эксплуатации и применению спектрометров SMPS.  

Материалы семинара предоставляются по заявкам заинтересованных лиц.
Заявки просим высылать по электронной почте ecm-optec@peterlink.ru с темой письма «Семинар «Сканирующий классификатор...»

В заявке необходимо указать наименование организации, ФИО и контактные данные.
Материалы предоставляются бесплатно.


17.03.2013

Интернет-семинар «Применение технологии сканирующего спектрометра подвижности для контроля концентрации и размеров частиц»

подробнее... 28.11.2012

Новости компании TSI

подробнее... 08.11.2012

Состоялся семинар «Анализаторы пыли для контроля атмосферного воздуха и рабочей зоны»

подробнее... 09.10.2012

Состоялся Интернет-семинар «Системы LDV/PDPA на базе твердотельного лазера»

подробнее... 10.09.2012

Состоялся Интернет-семинар «Оборудование TSI для тестирования фильтров»

подробнее...